EL METRO Y LA METROLOGÍA. ENTRE LA CIENCIA Y LA TÉCNICA por el Prof. Dr. D. Félix Faura Mateu, académico honorario

Decía Lord Kelvin en 1883 en el Instituto de Ingenieros Civiles de Londres que: cuando alguien es capaz de medir y expresar en números aquello de lo que habla, conoce algo sobre el particular; pero cuando no puede medirlo, cuando no puede expresarlo numéricamente, su conocimiento es escaso e insatisfactorio, sintetizando en esta famosa frase un asunto que ha estado siempre presente en cualquier civilización. No debe extrañarnos pues que todos los grandes imperios -por razones económicas y políticas pero también de tipo científico y tecnológico- hayan prestado siempre atención a la ciencia de la medida o metrología.

En 1790 se encomendó a la docta Academia de Ciencias de Francia el establecimiento de un sistema unificado de medidas, constituyéndose al efecto una comisión en la que trabajaron, entre otros académicos, los eminentes científicos y matemáticos Lagrange, Laplace, Legendre o Monge. La Academia culminó sus estudios con la definición del sistema métrico, proponiendo que éste fuese decimal y que se adoptase como base, o unidad fundamental, una de carácter natural y reproducible del universo. Esta unidad fue la de longitud a la que se denominó metro. Su determinación fue realizada por los prestigiosos geómetras Méchain y Delambre -ayudados por ingenieros militares y marinos españoles- mediante la medida del arco de meridiano de París comprendido entre Dunquerque y Barcelona. Posteriormente, en 1960 se abandona la definición vigente desde 1889 por otra basada en la longitud de onda en el vacío de la radiación correspondiente a la transición entre dos niveles del átomo de cripton 86, y en 1983 se define nuevamente a través de la longitud del trayecto recorrido en el vacío por la luz durante 1/299792458 de segundo, culminándose así un largo periplo iniciado con los sistemas de base antropométrica y se aportó estabilidad y universalidad a un asunto de indudable interés político y económico pero de naturaleza básicamente científica.

En la vertiente tecnológica podríamos recordar el imposible desarrollo de la electrónica o de las nanotecnologías -que exigen alcanzar incertidumbres del orden de milésimas de micrómetro- sin la asistencia de una avanzada metrología e instrumentación metrológica, por ejemplo: láseres estabilizados como captadores de posición en los correspondientes sistemas de medida. Análogamente, otros muchos sectores tecnológicos tales como la astronáutica, los procesos de fabricación avanzados, las comunicaciones, la robótica o todos los denominados microsistemas demandan nuevas prestaciones metrológicas más exigentes, que siguen requiriendo un sostenido esfuerzo en I+D, tanto científico como tecnológico.